服務熱線
HEMIDIG數字植物冠層分析系統
更新時間：2017-07-12
訪問次數：3150
HemiView 通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，HemiView 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布。
一、 用途：
HemiView 通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，HemiView 能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布。
二、 原理：
使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數碼相機從植物冠層下方或森林地面向上取像， 再將數碼相機的高清晰度影像載入HemiView軟件，進行分析處理。
三、 組成：
DCM6高清晰度數碼相機：用以獲取冠層圖像；
SLM6自平衡相機安放支架：安裝數碼相機，自動保持水平；
SCL6數碼相機用魚眼透鏡：與數碼相機一起獲取冠層圖像；
MPD1可伸縮單臂支架：可以獲取不同層面冠層圖像；
HemiView軟件：處理影像數據文件。
512M數據存儲卡：儲存冠層圖像。
四、可選件：
三腳架：用來安放相機或自平衡相機安放支架。
五、基本技術指標：
1、數碼相機zui大分辨率：8M pixels；
2、魚眼透鏡視角：180o；
3、512M數據存儲卡數據容量：20張高清晰度圖像或60張標準圖像；
4、MPD1可伸縮單臂支架范圍：0.69 ~ 1.66 m ；
六、 產地：英國
上一篇： SUNSCAN植物冠層分析系統
下一篇：WinFOLIA 多用途葉面積儀